Overleg:Scanning probe microscopy

Het is incorrect dat Scanning Probe Microscopy en Atomic Force Microscopy hetzelfde zijn. Scanning Probe Microscopy is de verzamelnaam van alle technieken die een oppervlak bestuderen door een sonde het oppervlak te laten rasteren. Daaronder vallen dus STM, AFM, optische technieken als SNOM en alle varianten van AFM voor magnetische, elektrische metingen e.d.

De pagina Scanning Probe Microscopy moet dus blijven bestaan, met doorverwijzingen naar STM, AFM en andere SPM-technieken.