Scanning probe microscopy

Uit Wikipedia, de vrije encyclopedie
Ga naar: navigatie, zoeken

Scanning probe microscopy (SPM) is een techniek om met een naald het oppervlak van een object op atoomschaal te verkennen en in te scannen. De techniek werd ontwikkeld na de uitvinding van Scanning tunneling microscopy in 1981. SPM heeft een aantal grote voordelen ten opzichte van elektronenmicroscopen en STM:

  • Het preparaat hoeft niet elektrisch geleidend te zijn;
  • er is geen hoogvacuüm nodig;
  • preparaten kunnen zelfs "onder" een vloeistof worden onderzocht;
  • de kostprijs is aanzienlijk lager dan die van een elektronenmicroscoop.

Met deze techniek kunnen verschillende materiaaleigenschappen in beeld worden gebracht, afhankelijk van het soort probe dat wordt gebruikt.

Enkele bekende SPM-technieken zijn: