IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Uit Wikipedia, de vrije encyclopedie
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Genre wetenschappelijk tijdschrift
Frequentie 4 keer per jaar
Eerste editie 2001
Taal Engels
Uitgeverij(en) IEEE
ISSN 1530-4388
Impactfactor 1,54 (2011)
ISO 4-afkorting IEEE Trans. Device Mater. Reliab.
Website
Portaal  Portaalicoon   Media

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability is een internationaal, aan collegiale toetsing onderworpen wetenschappelijk tijdschrift op het gebied van de natuurkunde. De naam wordt in literatuurverwijzingen meestal afgekort tot IEEE Trans. Device Mater. Reliab. Het wordt uitgegeven door Institute of Electrical and Electronics Engineers en verschijnt 4 keer per jaar. Het eerste nummer verscheen in 2001.