Röntgenfluorescentiespectrometrie

Uit Wikipedia, de vrije encyclopedie
Ga naar: navigatie, zoeken
Schematische weergave van röntgenfluorescentiespectrometrie

De röntgenfluorescentiespectrometrie (vaak aangeduid met het uit het Engels afgeleide acroniem XRF) is een techniek uit de analytische scheikunde waarbij de samenstelling van een monster uit chemische elementen wordt bepaald.

In de röntgenfluorescentiespectrometrie wordt het monster (vast of vloeibaar) bestraald met harde röntgenstraling. Het monster zendt dan bij langere golflengte röntgenstraling uit die karakteristiek is voor de elementen die in het monster zitten. De techniek is niet destructief: het monster wordt normaal gesproken niet aangetast door de analyse.

Elementen in een groot bereik kunnen met deze techniek worden gemeten. Aan de kant van de lichte atomen wordt de techniek begrensd doordat de fluorescentie steeds langere golflengten krijgt. Deze straling is moeilijk goed te detecteren omdat ze heel makkelijk wordt tegengehouden door de zogenaamde vensters die de verschillende onderdelen van het apparaat van elkaar scheiden. Aan de kant van de zware atomen wordt de techniek begrensd doordat de röntgenstraling die wordt gebruikt om de fluorescentie te induceren een hogere energie moet hebben dan de karakteristieke straling van het element dat wordt gemeten. In de praktijk kunnen concentraties van elementen tussen natrium en uranium worden bepaald met behulp van röntgenfluorescentie.

De röntgenstraling in een röntgenfluorescentiespectrometer wordt opgewekt met behulp van een röntgenbuis. Het uittreevenster, bestaande uit beryllium, van de buis wordt zo dicht mogelijk bij het monster gebracht om een zo groot mogelijke hoeveelheid fluorescentie te creëren. Één van de technische obstakels in een goede spectrometer is het scheiden van het fluorescentie signaal van de directe straling van de röntgenbuis.